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数字系统测试与可测试设计
（美）阿布拉莫韦奇（Abramovici，M.）等著；李晓维等译2006 年出版449 页ISBN：7111192370本书系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测试性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法。
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