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半数字化核电厂控制室人因可靠性分析
戴立操著2012 年出版146 页ISBN:9787502256579安全分析对核电厂运行安全至关重要。据此,概率安全评价被提出和不断发展。它用基于事故场景的方法和思路分析研究核电厂系统,通过运用多种安全性分析技术,鉴别其可能的后果,计算出各种危险因素导致事故发生的概...
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有机半导体异质结 晶态有机半导体材料与器件
闫东航,王海波,杜宝勋编著2012 年出版322 页ISBN:9787030334343本书是以作者研究组近年来的主要工作为主线,介绍在非晶表面制备大面积的高有序有机半导体薄膜的原理和方法,高迁移率有机半导体的异质结效应和界面电子结构,有机异质结效应对电输运的影响,以及微纳尺度有机晶态...
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碳化硅半导体材料与器件
(美)迈克尔·舒尔著2012 年出版332 页ISBN:9787121177552碳化硅属于第三类半导体材料,即宽禁带半导体研究最广泛的材料之一,也是最早被发现的半导体材料,由于其优越的性能,使其能满足高温、大电流、高频及强辐射环境应用。本书系统介绍了碳化硅半导体材料及器件。前两...
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表面镀覆层失效分析与检测技术
宣天鹏编著2012 年出版361 页ISBN:9787111372165本书系统地介绍了表面镀覆层的失效分析与检测技术。其主要内容包括表面镀覆层失效分析的目的、内容和工作程序,表面镀覆层的磨损失效分析等。...
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模具失效分析与故障处理
陈芬桃主编;洪耿松副主编2012 年出版149 页ISBN:9787121178610本书根据高等职业院校、技师学院“模具设计与制造专业”的教学计划和教学大纲,以“国家职业标准”为依据,按照“以工作过程为导向”的课程改革要求,以典型任务为载体,从职业分析入手,切实贯彻“管用”、“够用”...
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钢铁产品缺陷与失效实例分析图谱
龚桂仙,陈士华,浦绍康,吴立新主编2012 年出版310 页ISBN:9787502454340本图谱由4个章节组成,共收集、整理了近年来工作中涉及的板材、线材、型材、连铸坯缺陷和失效分析实例204个。对每种缺陷或失效实例,分别用图片和文字表述了它们的宏、微观特征,对缺陷的形成原因或造成产品失效...
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功率半导体器件基础 英文版
(美)B.JayantBaliga著2012 年出版1065 页ISBN:9787030343406本书作者是功率半导体器件领域的著名专家,IGBT器件发明人之一。本书结合作者多年的实践经验,深入讨论了半导体功率器件的物理模型、工作原理、设计原则和应用特性,不仅详细介绍了硅基器件,还讨论了碳化硅器件的...
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现代集成电路半导体器件
(美)胡正明著;王燕,张莉,叶佐昌等译2012 年出版260 页ISBN:9787121176623本书系统介绍了现代集成电路中的半导体器件,是一本深入阐述半导体器件的物理机制和工作原理并与实践相结合的教材。本书没有按电子器件、光电子器件、微波器件等通常的分类形式,而是强调了不同半导体器件中的...
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集成电路中的现代半导体器件 影印版 英文版
(美)胡正明著2012 年出版354 页ISBN:9787030326652本书主要介绍与集成电路相关的几种主流半导体器件的基本原理,包括PN结二极管、MOSFET器件和双极型晶体管(BJT),同时介绍了与这些半导体器件相关的集成工艺制造技术。本书作者是美国加州伯克利大学的终身教授、...