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杨德仁等著2010 年出版381 页ISBN:9787030270368本书主要描述半导体材料的主要测试分析技术,介绍各种测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和分析实例,主要包括载流子浓度(电阻率)、少数载流子寿命、发光等性能以及杂质和缺陷的测试,其测试分析技术涉及到...
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廖立兵等主编2010 年出版259 页ISBN:9787122075383本书系统介绍了X射线衍射分析、电子探针、扫描电子显微镜、透射电子显微镜等矿物材料现代测试技术的仪器组成、基本原理。
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