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表面分析 XPS和AES 引论
吴正龙译2008 年出版145 页ISBN：7562822263本书讲述了现代电子能谱中的单色化XPS、小面积XPS（SAXPS）、成像XPS、XPS深度剖析、场发射AES/SAM等功能的分析技术，以及在冶金学、腐蚀学、陶瓷催化剂、微电子半导体材料、粘胶科学、聚合物材料等领域中的应用...
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