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先进半导体材料及器件的辐射效应
C.Claeys,E.Simoen著2008 年出版428 页ISBN:7118054089本书介绍辐射环境、空间应用器件的选择以及半导体材料和器件的基本辐射效应机理等,内容反映了该领域的最新进展。
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热处理常见缺陷分析与对策
王忠诚编著2008 年出版338 页ISBN:9787122011459本书主要介绍钢的热处理原理、工艺方法,对零件在加热,淬火、回火、表面淬火以及化学热处理工艺过程中,未发现的常见热处理缺陷进行分类,对缺陷产生的原因,影响因素进行了分析和探讨,同时提出了防止和改进的措施.....
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锅炉压力容器腐蚀失效与防护技术
窦照英,周军编著2008 年出版316 页ISBN:9787122020468本书介绍锅炉压力容器腐蚀结垢的水质处理、清洗技术、失效检测与分析方法、腐蚀结构诊断技术与风险等内容。
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半导体器件物理 第3版
(美)施敏,伍国珏著;耿莉,张瑞智译2008 年出版598 页ISBN:9787560525969本书为微电子领域一本世界著名教材,已被译为6国文字,发行量逾百万册,该书为第3版,主要更新了最新的现代专题,例事和习题及习题指导。本书可供本科生、研究生以及从事微电子、半导体器件的工程技术人员使用。...
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纺织品质量缺陷及成因分析 显微技术法 damage detection by microscopy
(德)Karl Mahall著2008 年出版149 页ISBN:9787506449182利用简便而有效的方法检测纺织品的质量,并通过对检测结果的分析推断产生质量问题的原因,一直是生产企业控制产品质量,商贸企业之间明确质量纠纷责任以及科研机构攻克质量难关的重要手段。本书运用诸多实例,一是...