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半导体测试技术原理与应用
刘新福等编著2007 年出版304 页ISBN:7502441018本书讨论了微区电学参数测试的重要性,综述了当今已研究出来的各种半导体测试方法的特点;详细分析四探针测量技术的基本原理,重点讨论常规直线四探针法、改进范德堡法和改进Ry-inaszewski四探针测试方法;讨论测...
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半导体科学与技术手册
何杰,夏建白主编2007 年出版686 页ISBN:9787030197429在国家自然科学基金委员会信息科学部的支持下,我们邀请了半导体领域的各有关专家撰写21世纪半导体科学和技术发展的展望,书名暂定为《21世纪半导体科学技术展望》。作者都是工作在第一线的知名专家,他们将针对...
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