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电子元器件失效与典型案例

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孔学东，恩云飞编著2006 年出版260 页ISBN：7118046191
本书讲述电子元器件失效与典型案例。
石油管材与装备失效分析案例集 1

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李鹤林，冯耀荣主编2006 年出版729 页ISBN：750215647X
本书以案例的形式对石油管材和装备的失效进行了详尽的分析，并提供改进意见。
半导体器件物理新版

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顾晓清主编2006 年出版179 页ISBN：7111182510
本书介绍了半导体物理和晶体管原理等知识。
常用半导体器件及模拟电路

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陈永甫主编2006 年出版311 页ISBN：7115138052
本书是步入电子应用园地必读的基础读物。本书内容从半导体基础知识开始，介绍了二极管，三极管的工作原理和特性等。
半导体器件导论

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（美）尼曼（Neamen，D.）著2006 年出版670 页ISBN：7302124515
本书的第1章至第4章介绍了固体晶格结构、固体的量子理论和半导体物理的基本知识，为后续的半导体器件分析打下了基础；第5章至第10章是全书的重点，详细讨论了PN结二极管、MOSFET和BJT器件的原理和分析方法；第11章...
机械可靠性与故障分析

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（日）额田启三著；王茂庆，柯发庆译2006 年出版298 页ISBN：7118042366
本书内容包括可靠性技术的本质、机械可靠性分析的基本知识、预期可靠性工作事例、工厂可靠性工作实际经验等。
半导体器件基础

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（美）安德森（Anderson，B.I.），（美）安德森（Anderson，R.L.）著2006 年出版773 页ISBN：7302124507
本书分为5部分共11章，全面介绍了半导体材料的基本性质和半导体器件的基本工作原理。与国内外关于半导体器件的其他教科书相比，这本书和半导体物理衔接更紧密，介绍了最新的半导体器件方面的进展，从器件物理和工...
航天发射场可靠性安全性评估与分析技术

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徐克俊2006 年出版0 页ISBN：
航天发射场可靠性安全性评估与分析技术

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徐克俊，金星，郑永煌编著2006 年出版240 页ISBN：711804928X
GIS质量评价与可靠性分析

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胡圣武著2006 年出版134 页ISBN：7503013060
本书系统地研究了GIS质量评价与可靠性分析的理论、技术和方法。主要内容包括：从GIS的组成部分系统地论述了GIS的模糊不确定性；Rough Set和Fuzzy集在GIS质量评价中的应用；初步建立了GIS的模糊可靠性分析的基本...