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    杨平编著2005 年出版399 页ISBN:7118040576

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  • 功率半导体器件 理论及应用

    (捷克)维捷斯拉夫·本达(Vitezslav Benda),(英)约翰·戈沃(John Gowar),(英)邓肯 A.格兰特(Duncan A.Grant)著;吴郁,张万荣,刘兴明译2005 年出版357 页ISBN:7502568026

    本书介绍了半导体性质、基本结构、器件制造和模拟。

  • 电子组装制造 芯片·电路板·封装及元器件

    (美)C.A.哈珀(C.A.Harper)主编;贾松良,蔡坚,王豫明等译2005 年出版416 页ISBN:7030146085

    本书所介绍为各种单片机、印刷电路板、集成电路和各种元器件封装技术,全书总共有十三章,包括对印刷电路板历史综述,集成电路板构造装配和封装、碾压等技术,印刷电路板、电子元器件构造、封装及互连技...

  • 系统封装基础

    (美)Rao R.Tummala著;黄庆安,唐洁影译2005 年出版888 页ISBN:7810894196

    本书主要内容包括:多芯片组装技术、球栅阵列技术倒装焊技术等封装方法,封装可靠性评估,以及专用RF、光、流体等微系统封装

  • 半导体器件集成电路辐射效应

    陈盘训著2005 年出版400 页ISBN:7118037613

    本书介绍各类半导体器件集成电路在核辐射和空间辐射环境下损伤机理和效应等。

  • 现代测试技术系统集成

    刘君华,申忠如,郭福田编著2005 年出版358 页ISBN:7121004461

    本书全面系统地论述了以计算机为核心现代测试系统集成设计基本方法基础理论。介绍了基本硬件模块:传感器、调理电路、数据采集卡基本特性,以及组成现代测试系统通用硬件平台基本原理集成设计方法...

  • 新一代运营支撑系统软件NGOSS 数据模型、体系架构测试

    电信管理论坛(TMF)著;谢青宇,马军涛等译2005 年出版163 页ISBN:7115130639

    本书内容包括共享信息数据模型,NGOSS技术中立架构,遵从性测试技术规约和遵从性测试信息模型测试规则。

  • 机械测试系统原理应用

    秦树人等编著2005 年出版286 页ISBN:7030158245

    本书全面系统地论述了测试系统及其基本特性,测试系统传感器,测试系统数据采集,信号分析数据处理,振动测试系统,噪声测试系统,应变测试系统,力、转速、转矩及功率测量系统,温度测量系统,压力测量系......

  • 计算机测试系统原理应用

    周明光,马海潮编著2005 年出版325 页ISBN:7121010445

    本书从工程实际应用出发,全面系统地介绍计算机测试系统设计各个重要环节。首先介绍构成计算机测试系统所需计算机和测控总线技术,计算机和测试系统接口技术,并在分析研究基础上归纳、整理出了各自特点...

  • 分子器件分子机器 通向纳米世界捷径

    (意)V.巴尔扎尼(V.Balzani),(意)A.克雷迪(A.Credi),(意)M.文图里(M.Venturi)著;田禾,王利民译2005 年出版431 页ISBN:7502568573

    本书阐述了分子器件和分子机器相关理论、分子设计以及结构功能。

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