半导体半器件可靠性与失效分析百度云网盘PDF下载

当前位置：首页 > 名称

图书搜索：

出版时间：

至

大约有20,000项符合查询结果项。（搜索耗时：0.0188秒）

基于无失效数据的可靠性参数估计

查看PDF目录购买本书
韩明编著2005 年出版150 页ISBN：7503746238
本书内容包括无失效数据情形的估计、无失效数据层的估计、无失效数据情形分布参数的估计等。
失效分析基础与应用

查看PDF目录购买本书
孙智，江利，应鹏展编著2005 年出版285 页ISBN：7111158547
本书着重于各类失效特征的描述和失效分析思路及方法的运用，强调理论与实践的结合。
表面工程与失效分析

查看PDF目录购买本书
张九渊主编2005 年出版415 页ISBN：7308044084
本书介绍了表面工程着力研究材料表面性能的改善，提高表面质量，是现代制造技术的有效组成部分，失效分析即是对材料损坏的原因分析，涉及领域广泛，为多学科交叉的一门新学科。...
半导体物理与器件第3版

查看PDF目录购买本书
（美）Donald A.Neamen著；赵毅强，姚素英，解晓东等译2005 年出版524 页ISBN：7121008637
本书是微电子技术领域的基础教程。全书涵盖了量子力学、固体物理、半导体材料物理以及半导体器件物理等内容，共分为三部分，十五章。第一部分是基础物理，包括固体晶格结构、量子力学和固体物理；第二部分是半导体...
功率半导体器件理论及应用

查看PDF目录购买本书
（捷克）维捷斯拉夫·本达（Vitezslav Benda），（英）约翰·戈沃（John Gowar），（英）邓肯 A.格兰特（Duncan A.Grant）著；吴郁，张万荣，刘兴明译2005 年出版357 页ISBN：7502568026
本书介绍了半导体的性质、基本结构、器件的制造和模拟。
半导体器件物理

查看PDF目录购买本书
孟庆巨，刘海波，孟庆辉编著2005 年出版332 页ISBN：7030139518
本书结合一些基本的、常用半导体器件，介绍了半导体器件的基本结构、主要工艺和物理原理。本书内容包括：PN结、金属-半导体结、结型场效应晶体管、金属-氧化物-半导体场效应晶体管、半导体太阳电池和光电二极...
半导体器件和集成电路的辐射效应

查看PDF目录购买本书
陈盘训著2005 年出版400 页ISBN：7118037613
本书介绍各类半导体器件和集成电路在核辐射和空间辐射环境下的损伤机理和效应等。
半导体量子器件物理

查看PDF目录购买本书
傅英，陆卫著2005 年出版337 页ISBN：7030136284
本书主要介绍了低维半导体材料的电学和光学性质，电学量子器件原理，光学量子器件原理和量子材料及器件的制备工艺等。书中既给出了传统的二极管、三极管的器件在纳米尺度上的许多量子特性，又对新型的量子点单电...
半导体器件物理

查看PDF目录购买本书
刘树林，张华曹，柴常春编著2005 年出版336 页ISBN：7121006227
本书由浅入深、系统地介绍了常用半导体器件的工作原理和工作特性。首先介绍了学习半导体器件必须的半导体材料和半导体物理的基础知识；然后重点论述了PN结、双极性三极管、MOS场效应管和结型场效应管的各项...
电子元器件可靠性试验工程

查看PDF目录购买本书
罗雯，魏建中，阳辉等编著2005 年出版350 页ISBN：712100965X
本书包括了电子元器件可靠性试验的各主要类别：环境试验（包括13类环境和综合环境试验）；寿命试验和加速寿命试验；鉴定试验；极限应力试验；可靠性筛选试验；可靠性增长试验。各试验类别包括了原理、理论模型、试验......