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半导体物理与测试分析
谭昌龙主编2012 年出版152 页ISBN:9787560336480《半导体物理与测试分析》结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章,主要内容为:半导体的基本性质;半导体中杂质和缺陷能级;平衡态半导体中载流子的统计分布;半导体的导电性;非平衡半导体......
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传感技术与实验 传感器件外形、标定与实验
张洪润,张亚凡主编2005 年出版328 页ISBN:7302112207本书是根据21世纪高等院校课程教学大纲的要求,结合现代电子技术、计算机技术发展的最新趋势,从实用角度出发,编写的一本独具特色的实验教材。...
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半导体芯片制造系统建模与优化调度控制
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