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纳米级CMOS超大规模集成电路可制造性设计
（美）坤杜著2014 年出版261 页ISBN：9787030400345本书的内容包括：CMOSVLSI电路设计的技术趋势；半导体制造技术；光刻技术；工艺和器件的扰动和缺陷分析与建模；面向可制造性的物理设计技术；测量、制造缺陷和缺陷提取；缺陷影响的建模和合格率提高技术；物理设计和可......
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“芯”路历程 “909”超大规模集成电路工程纪实
胡启立著2006 年出版266 页ISBN：7121014750本书讲述了为冲破我国电子信息产业发展的瓶颈，改变芯片制造业的落后局面，建设“909”工程的初步过程；以及华虹NEC从孕育到诞生、成长、自立的具体经历；同时也记录了胡启立同志在建立华虹集团，从事“909”工程，直...
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CMOS超大规模集成电路设计 第4版
（美）韦斯特，（美）哈里斯著2012 年出版712 页ISBN：9787121174704本书是本经典教材，该版本反映了近年来集成电路设计领域面貌的迅速变化，突出了延时、功耗、互连和鲁棒性等关键因素的影响。内容涵盖了从系统级到电路级的CMOS VLSI设计方法，介绍了CMOS集成电路的基本原理，设计...
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CMOS超大规模集成电路设计 英文版
（美）韦斯特，（美）哈里斯著2011 年出版751 页ISBN：9787121141447本书是本经典教材，作者具有丰富的业界实践经验与教学经验。该版本反映了近年来集成电路设计领域面貌的迅速变化，突出了延时、功耗、互连和鲁棒性等关键因素的影响。内容涵盖了从系统级到电路级的CMOS VLSI设...
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CMOS超大规模集成电路设计 第3版
（美）威斯特（ Weste，H.E.），（美）哈里斯（Harris，D.）著；汪东等译2006 年出版784 页ISBN：7508338626这本关于CMOSVLSI设计的畅销图书经过全面修订，囊括了在芯片上设计复杂与高性能CMOS系统的大量先进技术。本书覆盖了从数字系统一级到电路一级的CMOS设计方法，其中既介绍了一些基本原理，也介绍了许多很好的设计...
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超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统
（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译2005 年出版511 页ISBN：7121014904VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
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