大约有548,015项符合查询结果项。(搜索耗时:0.8657秒)
为您推荐: 半导体半器件可靠性与失效分析 电子元器件失效分析技术 功率半导体封装技术虞国良通信计算机汽车电子工业技术电工电气器件设计与制造材料科学参考阅读使用电子工业 半导体微纳制造技术及器件 title pcb失效分析技术 第2版 周波 半导体物理与器件
-
事故案例分析 内容精讲与试题解析
全国注册安全工程师执业资格考试辅导教材编写委员会编著2008 年出版230 页ISBN:9787802295674本书依据全国注册安全工程师执业资格考试大纲的要求编写。内容包括:事故致因理论和模型,危险有害因素的辨识、分析和控制,应急管理与应急预案,事故调查的组织、程序和事故统计调查,事故原因分析和整改措施。针对...
-
传感技术与实验 传感器件外形、标定与实验
张洪润,张亚凡主编2005 年出版328 页ISBN:7302112207本书是根据21世纪高等院校课程教学大纲的要求,结合现代电子技术、计算机技术发展的最新趋势,从实用角度出发,编写的一本独具特色的实验教材。...
-
-
-
半导体晶片清洗 科学、技术与应用
(美)克恩主编2012 年出版350 页ISBN:9787121173974半导体晶片清洗工艺已成为半导体器件制造过程中最为关键的操作之一,特别是在先进的ULSI硅集成电路的制造中。本书分别由19位业界公认的科学家撰写,所有与半导体晶片清洗相关的知识、科学和技术原理汇集到了一...
-
UG NX 7.0有限元分析入门与实例精讲
沈春根,王贵成,王树林等编著2010 年出版298 页ISBN:9787111311454本书以UG NX7.0的高级仿真模块为平台,详细介绍在典型工程实例中采用有限元进行分析的解题思路和操作步骤等。
-
首饰生产质量检验及缺陷分析
袁军平,王昶著2015 年出版292 页ISBN:9787562535904本书结合珠宝首饰企业生产实践,介绍了首饰生产质量检验机构设置、检验人员的素质要求、检验手段与方法,以及QC工具在首饰生产质量检验中的应用。专中列举了大量首饰生产过程中,在生产原辅材料、原版、倒模、执...
-
相关性失效机械系统的可靠性分析方法
唐家银,何平,陈崇双著2014 年出版137 页ISBN:9787118093445本书深入研究具有相关性代表特征的典型静动态Copula模型及其相关属性、模型检验和参数估计方法;以致力于将Copula相关性理论引入机械系统可靠性工程中。以应力-强度相关性干涉模型为理论基础,研究应力-强度相...
-
事故案例分析内容精讲与试题解析
宋大成主编2012 年出版164 页ISBN:9787511414717本书根据全国注册安全工程师执业资格考试大纲(2012版)要求编写。内容包括:事故致因理论和模型,危险有害因素的辨识,分析和控制,安全生产许可、教育培训、规章制度、安全检查、安全评价,应急管理与应急预案,事故......
-