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半导体器件可靠性技术
（日）安食恒雄主编；日本松下电子工业株式会社编；周南生等译1991 年出版352 页ISBN：7560601669本书论述了影响半导体分立器件和集成电路可靠性问题的各种因素及其解决办法，并对正在研究的课题也作了介绍。
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功率半导体器件及其仿真技术
陆晓东著2016 年出版156 页ISBN：9787502471279全书共分为五个部分，即功率半导体器件的应用及发展水平、功率半导体器件的工作原理、功率半导体器件的加工工艺和功率半导体器件经验公式法设计、商用软件设计及热设计。本书可为从事功率器件的研究人员提供...
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