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半导体材料测试与分析
杨德仁等著2010 年出版381 页ISBN：9787030270368本书主要描述半导体材料的主要测试分析技术，介绍各种测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和分析实例，主要包括载流子浓度(电阻率)、少数载流子寿命、发光等性能以及杂质和缺陷的测试，其测试分析技术涉及到...
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半导体物理与测试分析
谭昌龙主编2012 年出版152 页ISBN：9787560336480《半导体物理与测试分析》结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章，主要内容为：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级；平衡态半导体中载流子的统计分布；半导体的导电性；非平衡半导体......
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继电保护事故缺陷处理技术与实例
黄国平主编2012 年出版232 页ISBN：9787512337848本书收集了大量继电保护的典型故障案例，总结了许多继电保护事故、缺陷处理的经验。书中星系描述了故障、缺陷的现象及过程，深刻分析了其产生的原因，并给出了处理方法及防范措施。全书共分5章，主要内容包括：继电....
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共因失效系统的可靠性分析方法
金星等编著2008 年出版180 页ISBN：9787118057775本书主要介绍了存在共同失效时，基于可靠性框图方法和基于故障树方法的系统可靠性分析方法，并且对系统可用性分析方法进行了详细讨论等内容。...
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出版时间