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数字系统测试和可测性设计
阿布拉莫维奇（Abramovici，M.），布鲁尔（Breuer，M.A.），弗里德曼（Friedman，A.D.）著2004 年出版652 页ISBN：7302077479本书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及范围等；第9至第1...
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