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互换性与测量技术基础
高丽，于涛，杨俊茹主编；李桂莉，王全为，孙静，苏春建副主编2012 年出版196 页ISBN：9787118078817本书分为绪论，测量技术基础，尺寸的公差、配合与检测，几何公差与检测，表面粗糙度与检测，圆锥和角度公差与检测，尺寸链基础，光滑极限量规设计，常用结合件的公差与检测，渐开线圆柱齿轮传动公差与检测等共11章。...
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互换性与技术测量 第3版
邢闽芳，房强汉，兰利洁2017 年出版267 页ISBN：9787302466437全书共分8章，内容包括：绪论、轴和孔结合的极限与配合，测量技术基础，几何公差及检测，表面粗糙度及其检测，光滑工件尺寸检测和量规设计，零件典型表面的公差配合与检测，尺寸链。...
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