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可靠性技术丛书 半导体集成电路的可靠性及评价方法
工业和信息化部电子第五研究所组编;章晓文,恩云飞编著2015 年出版395 页ISBN:9787121271601本书共11章,以硅集成电路为中心,重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效...
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先进半导体材料及器件的辐射效应
C.Claeys,E.Simoen著2008 年出版428 页ISBN:7118054089本书介绍辐射环境、空间应用器件的选择以及半导体材料和器件的基本辐射效应机理等,内容反映了该领域的最新进展。
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