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极限配合与测量技术 第2版
张林主编2010 年出版182 页ISBN：9787115225191本书包括几何量的加工误差和公差、形位公差与尺寸公差的关系、表面粗糙度、螺纹联接的公差与配合、测量技术基础、实训等
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刘殿臣主编2009 年出版540 页ISBN：9787118058895本书以“图书＋光盘”的形式，为读者提供了海量的液晶彩显、CRT彩显集成电路数据、实例维修数据、实测维修数据、代换资料等内容。
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