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数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计
(美)阿尔佛雷德著2004 年出版348 页ISBN:7508319044本书跳过高深的理论和数学公式,直击现实世界中的数字设计和测试工作。学习实用的测试策略,以满足对品质、可靠性及成本控制的业务需求,并在紧张压力环境下按期完成任务。本书将帮助读者优化设计,在工程上权衡某...
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