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可靠性技术丛书 半导体集成电路的可靠性及评价方法
工业和信息化部电子第五研究所组编；章晓文，恩云飞编著2015 年出版395 页ISBN：9787121271601本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效...
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