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材料的透射电子显微学与衍射学
(美国)Brent Fultz;(美国)James Howe2017 年出版658 页ISBN:9787312037498本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比,这一版所有章节都进行了更新和修订,并增加了与TEM有关的重要的新技术,如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解....
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