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数字电子技术基础 第2版
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靳松,韩银和著2012 年出版108 页ISBN:9787302285434晶体管特征尺寸随着制造工艺的进步而不断缩小。这种趋势,虽然提高了芯片的性能,却恶化了集成电路的老化效应,对电路在其服役期内的可靠性造成了严重的威胁和挑战。本文的主要内容涉及了一种公认的在纳米工艺下...
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