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半导体的检测与分析 第2版
许振嘉主编2007 年出版635 页ISBN：7030194624本书的主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体研究中的应用，半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料（第......
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半导体产业知识产权百问
中国半导体行业协会知识产权工作部编2005 年出版205 页ISBN：7801983416本书总结了半导体行业中最经常出现并面对的知识产权问题，分门别类结合我国相关法律、行政法规的规定，一一支招作答，是我国半导体行业企业应对新经济发展挑战的最佳工具书。...
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专利信息采集与分析 第2版
陈燕编著2014 年出版391 页ISBN：9787302378587本书从专利信息的释义出发，按照专利分析和流程，重点对专利信息采集与分析作了系统而深入的论述，尤其是对专利信息的分析，从专利的指标分析、定量分析、定性分析、拟定量分析、图表分析，以及软件分析等视角做了最...
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半导体照明产业及政策标准解读
北京半导体照明科技促进中心，国家电光源质量监督检验中心（北京）编著2012 年出版146 页ISBN：9787111387930本书是国内第一本全面解读国内外半导体照明产业相关政策环境及标准的书。本书共分为产业及政策、标准以及附录三个部分，对国内外半导体照明产业发展的政策、产业发展模式和标准等方面进行了详尽描述和深入分...
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亲历中国半导体产业的发展
俞忠钰编著2013 年出版362 页ISBN：9787121215780本书通过俞忠钰自1958年至今的亲身经历，回顾了中国半导体产业发展中的重大历史事件，阐述了中国半导体产业，尤其是集成电路产业筚路蓝缕的成长历程，并对由此而产生的一些经验或启示进行了认真思考。本书可作为高...