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电子电路分析和计算参数分析法

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李拔强编著1980 年出版335 页ISBN：15182·14
可编程逻辑器件及EDA技术数字系统设计与SOPC技术

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李景华，杜玉远主编2008 年出版496 页ISBN：9787811025293
本书内容具体包括：可编程逻辑器件及EDA技术概述，VHDL硬件描述语言，典型VHDL设计实例，典型数字系统的设计，Quartus Ⅱ 7.0开发系统，SOPC系统简介，Nios Ⅱ嵌入式处理器及总线接口， Nios Ⅱ系统嵌入式外设， Nios Ⅱ系统...
压力容器的疲劳失效

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浙江工学院2222 年出版124 页ISBN：
光电材料与器件测试评估技术

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乔建良著2014 年出版192 页ISBN：9787564514884
本书以光电阴极与光敏电阻为例，详细介绍了智能测试技术在光电器件的研制和生产中的应用。书中从GaN光电阴极光电发射机理，GaN光电阴极制备技术，GaN光电阴极光谱响应测试，GaN光电阴极稳定性测试评估，光敏电阻检测...
飞机零件破断失效图谱

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胡世炎V215 年出版0 页ISBN：
电子显微分析

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章晓中编著2006 年出版319 页ISBN：7302141606
本书介绍透射电子显微术、扫描电子显微术、电子谭震、扫描探针显微术的基本理论和应用。
电子探针分析原理

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徐萃章编著1990 年出版510 页ISBN：7030017668
电子电路分析

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（苏）西哥尔斯基，В.П.著；张苹迦，张召南译1964 年出版203 页ISBN：13119·509
电子线路分析基础下

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华北电力学院，张瑞华1983 年出版988 页ISBN：15143·5131
电子束显微分析

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（美）D.R.彼曼 J.A.伊塞思1977 年出版154 页ISBN：