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温度对微电子和系统可靠性的影响
（美）拉尔（Pradeep Lall），派特（Michael G.Pecht），哈吉姆（Edward B.Hakim）著；贾颖，张德骏，刘汝军译2008 年出版218 页ISBN：7118054844本书论述了温度对微电子和系统可靠性的影响，提出了一些新的失效模型和设计方法。
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