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温度对微电子和系统可靠性的影响
(美)拉尔(Pradeep Lall),派特(Michael G.Pecht),哈吉姆(Edward B.Hakim)著;贾颖,张德骏,刘汝军译2008 年出版218 页ISBN:7118054844本书论述了温度对微电子和系统可靠性的影响,提出了一些新的失效模型和设计方法。
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火焰的结构.辐射与温度 修订第2版
(英)给登(Gaydon,A.G.),( )沃弗哈尔德(Wolfhard,H.G.)著;韩昭沧译1965 年出版365 页ISBN:15165·3123(冶金512) -
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