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半导体物理与测试分析
谭昌龙主编2012 年出版152 页ISBN:9787560336480《半导体物理与测试分析》结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章,主要内容为:半导体的基本性质;半导体中杂质和缺陷能级;平衡态半导体中载流子的统计分布;半导体的导电性;非平衡半导体......
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